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天瑞Skyray EDX 6800能量色散X熒光光譜儀 EDX6800能量色散X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、AI、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率。
天瑞Skyray OPA1000+多通電鍍液在線監(jiān)測儀 OPA1000+多通道電鍍液在線監(jiān)測儀基于元素分析的實時過程控制，滿足檢測制造銅箔過程中在線電鍍液(液流)成分檢測要求，最多可測試80多種化學元素，檢測限從ppm水平到重量百分比(wt%)濃度。
天瑞Skyray OPA 1000在線電鍍液分析儀 OPA-1000在線電鍍液分析儀基于元素分析的實時過程控制，滿足檢測制造銅箔過程中在線電鍍液(液流)成分檢測要求，最多可測試80多種化學元素，檢測限從ppm水平到重量百分比(wt%)濃度。
天瑞Skyray CEMS-X100煙氣重金屬在線分析儀 CEMS-X100是天瑞儀器20多年X射線熒光（XRF）研發(fā)制造經驗的結晶。儀器結合煙氣顆粒物稀釋采樣技術和等速采樣技術，將煙氣中水分和溫度降至一定溫度后，顆粒物自動富集在卷狀濾膜上，采用高度集成探測器和X射線熒光數字多道分析技術檢測重金屬顆粒物在X射線激發(fā)下產生的X熒光強度，通過信號強度和體積換算準確計算煙氣顆粒物中重金屬的濃度。
天瑞Skyray EDX 2000A能量色散X熒光光譜儀 天瑞EDX 2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區(qū)膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行快速對焦精準分析，滿足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統(tǒng)。
