OM1000 光纖光纜生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述：

更新時(shí)間：2025-07-08

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：德力測(cè)試儀

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詳細(xì)說明：

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

OM1000產(chǎn)品是由Deviser公司于2016年推出的高性能臺(tái)式光纖光纜生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)。是基于OTDR原理的綜合測(cè)試產(chǎn)品。采用高集成、實(shí)時(shí)分析處理等新技術(shù)，面向光纜加工、測(cè)試、檢驗(yàn)的應(yīng)用，具有優(yōu)秀的測(cè)試性能和性價(jià)比。

功能特點(diǎn)

● 優(yōu)秀的短距特性，事件盲區(qū)最小1m，衰減盲區(qū)最小5m
● 更大的動(dòng)態(tài)43dB/41dB，可測(cè)180km光纖
● 齊全的用戶數(shù)據(jù)接口，支持LAN、USB等
● 實(shí)時(shí)刷新速率可達(dá)8場(chǎng)/s，讓測(cè)試更加快捷
● 最多支持4個(gè)光口同時(shí)測(cè)試

???技術(shù)指標(biāo)

技術(shù)規(guī)格	OM1000
波長(zhǎng)（可定制）	1310nm/1550nm/1300nm/850nm/1383nm
波長(zhǎng)精度	1310nm/1550nm/1300nm/850nm：±5nm； 1383nm：±1nm
光譜寬度(RMS)	<10nm
測(cè)量項(xiàng)	事件損耗、反射損耗、衰減、衰減系數(shù)、RMS及峰-峰噪音、回波損耗
脈沖寬度(ns)	5,10,20,50,100,200,500,1000,2000,5000,10000,20000
動(dòng)態(tài)a	SM:1310nm 30~43dB 1550nm 28~41dB MM：1300nm 27dB 850nm 25dB 1383nm 25~35dB
事件盲區(qū)b	≤1.0m
衰減盲區(qū)c	≤5m
采樣分辨率	5cm~12.8m
量程范圍 (km)	SM:100m~400km MM: 100m~50km
群折射率范圍	1.000000~2.000000
測(cè)距不確定性d	±（0.75m+0.0001%×光纖長(zhǎng)度+采樣分辨率）
衰減精度	0.01dB/km
水平顯示(km)	0.03至400滿屏
垂直顯示(dB)	0.6至60滿屏
垂直分辨率比例	0.01dB
處理器	Intel® Core™ Ivy Bridge/Sandy Bridge 處理器
顯示接口	VGA
LAN 接口	2個(gè)10/100/1000Mbps網(wǎng)絡(luò)接口，LAN1可支持網(wǎng)絡(luò)喚醒，其中1 個(gè)可選
USB接口	USB2.0 ×6， USB供電 DC5V±0.05V@500mA
激光安全	IEC 60825-1 CLASS 1M
光纖測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)	ITU-T推薦G650，IEC605793-1-22、-40和-45，TIA/EIA FOTP-59、60和61
尺寸（長(zhǎng)×寬×高）	整機(jī)：480mm×400mm×140mm
重量	16.5kg
操作溫度范圍	10℃~+50℃
存儲(chǔ)溫度范圍	40℃~+70℃
相對(duì)濕度	0%-95% 非凝結(jié)

a. 測(cè)試條件： 25℃ ±5℃，20μs 脈寬，3 分鐘平均時(shí)間，起始后向散射至 SNR=1；

b. 測(cè)試條件： 25℃ ±5℃，5ns 脈寬，非飽和反射事件，5cm 距離分辨率；

c. 測(cè)試條件： 25℃ ±5℃，5ns 脈寬，非飽和反射事件，5cm 距離分辨率；

d. 未計(jì)入光纖群折射率不確定性。

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